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pointSEM Zeiss LEO 430

Key Facts

Bildverarbeitung
  • Auflösung: bis zu 23.000 × 23.000 Pixel
  • Verweilzeit: 10 ns – 500 ms pro Pixel
  • Vergrößerungsbereich: 15 – 1.000k
  • Image Shift Bereich: ±100 µm
Auflösung bei WD = 8 mm and 30 kV
  • High vacuum: 4nm 
Emitter
  • Tungsten Filament
Beschleunigungsspannung
  • 0,3 – 30 kV
Strahlstrom
  • 1 pA bis 500 nA (gemessen mit Faraday-Cup)
Detektoren
  • In-Chamber Everhart Thornley Detector (ETD): SE
Kammer
  • Höhe: 190 mm
  • Breite: 300 mm
  • Tiefe: 265 mm
Stage
  • Anzahl der Achsen: 5
  • X-Verfahrweg: 100 mm
  • Y-Verfahrweg: 125 mm
  • Z-Verfahrweg: 35 mm
  • Rotation: 360°
  • Tilt: 0° – 90° 

pointSEM Zeiss LEO 430 im Detail

Hochauflösende Bilder für präzise Analysen.

Dieses pointSEM basiert auf der Hochleistungs-Plattform LEO 430 und ist mit einer Wolfram-Feldemissionsquelle ausgestattet. Die Zeiss-Säule wurde aufbereitet, und mit unserer hochmodernen, leistungsstarken Elektronik und der leistungsfähigen, vielseitigen Steuerungssoftware von point electronic ergänzt.

Mikroskop anfragen

Unser pointSEM Inklusiv-Service

Wir begleiten Sie von der Installation bis zum langfristigen Betrieb.


10+ Jahre Ersatzteilgarantie

Langfristige Verfügbarkeit aller point electronic Ersatzteile für höchste Betriebssicherheit.


Garantie auf alle Komponenten 

1 Jahr Garantie auf unsere point electronic Teile, 6 Monate auf alle Originalteile.


Lieferung und Installation inklusive 

Ihr REM wird komplett geliefert, installiert und in Betrieb gesetzt – ohne zusätzliche Kosten.


Sofort einsatzbereit 

Der Workstation-PC ist vollständig eingerichtet und für die Steuerung des pointSEMs vorkonfiguriert.


Schulung für Ihr Team 

Praxisnahes Training für eine sichere und effiziente Nutzung der pointSEM Steuerungssoftware.

Mehr für Ihr Mikroskop

Erweitern Sie die Funktionen Ihres pointSEMs mit unseren Add-Ons

Magnetfeldkompensation von Spicer Consulting
Magnetfeldkompensation von Spicer Consulting
  • Minimiert externe elektromagnetische Störeinflüsse auf Bildqualität und Messgenauigkeit
  • Ermöglicht höhere Auflösung, stabilere Bilder und reproduzierbare Analyseergebnisse
Unabhängige Stromversorgung und Überschlagschutz
  • Sichert den Betrieb bei Stromausfällen
  • Schutz vor Netzschwankungen und Überspannungen
  • Reduziert Ausfallzeiten Ihres pointSEMs
Plasma Cleaner
  • Reduziert Verunreinigungen
  • Verbessert die Bildqualität
  • Weniger Artefakte
  • Stabilere und zuverlässigere Messergebnisse, insb. bei hohen Auflösungen
Kompressoren
  • Versorgt die Nebenaggregate und Infrastruktursysteme
  • Unterstützt einen stabilen Betrieb
  • Vermeidet Betriebsstörungen
  • Erhöht die Systemverfügbarkeit
Umlaufkühler
  • Konstante Betriebstemperatur wichtiger System-Komponenten Ihres pointSEMs
  • Reduziert temperatur-bedingte Schwankungen
Vakuum-Pumpen

Wir bieten passende Vakuumpumpen für Ihr pointSEM an: 

  • Vorpumpen 
  • Turbopumpen
Schallschutzboxen
  • Reduziert die Geräuschbelastung durch Pumpen und Kompressoren
  • Verringert störende Vibrationen für Ihr pointSEM

Mehr Technologien für Ihr pointSEM

Analytische Add-Ons

EDX von Bruker
  • Qualitative und quantitative Materialanalysen - von Bor (5) bis Kalifornium (98)
  • Zusammensetzungsbewertungen, Linienabtastung, spektrale Elementzuordnung
EBSD von Bruker
  • Material-Untersuchungen kristallographischer Strukturen
  • Analyse von Kornorientierungen, Phasenverteilungen und Verformungs-Zuständen
Premium BSE Detektor
  • Schneller, effizienter und vielseitiger Detektor für die Materialwissenschaft
  • Schnelle Bildgebung in Sub-Mikrosekunden
  • Betrieb bei niedrigen kV
High-Temperature BSE Detektor
  • Einzigartiger, lichtunempfindlicher Detektor für In-situ-/In-operando-Mikroskopie
  • Hohe Effizienz im Low kV-Bereich
  • Mit Wasserkühlung
3D Topography Bundle
  • Einzige Lösung für quantitative und kalibrierte Echtzeit-Messung der Oberflächenhöhen
  • Echtzeit-3D-Visualisierung
  • Hersteller-unabhängig
3D Calibration Bundle
  • 3D Kalibrierung Ihrer Probe 
  • Genauigkeits-Ermittlung Ihrer 3D-Messungen
  • Quantitative Auswertung von Oberflächen- und Höhenmerkmalen
Elektrische Analyse im REM
  • Visualisierung elektronischer Defekte und Eigenschaften (EBIC, RCI, EBIRCH)
  • Mehrkanal-Bildgebung, Live-Farbmischung, quantitative Signalanalyse, In-situ-Vorverstärkung, integrierte Lock-in-EA

Präzise REM-Analysen.

Schnell installiert.

Sofort einsatzbereit.

Mit Ihrem pointed Zeiss LEO 430 erhalten Sie ein leistungstarkes REM-System inklusive Installation, vorkonfiguriertem Workstation-PC und persönlichem Support.

  • Installation und Schulung inklusive
  • 10+ Jahre Ersatzteilsicherheit
  • Persönlicher Ansprechpartner
     

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Die auf dieser Webseite angegebenen Leistungswerte und Daten entsprechen den typischen Ergebnissen, die bei Tests in unserem Werk unter bestimmten Testbedingungen erzielt wurden. Sie stellen keine garantierten Werte für den Einsatz vor Ort dar.

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